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先辈质料表征要领

 

X射线能谱剖析(EDS) 聚焦离子束剖析(FIB) 俄歇电子能谱剖析(AES) X射线光电子能谱剖析(XPS)
静态二次离子质谱剖析(D-SIMS) 飞行工夫二次离子质谱剖析(TOF-SIMS)

 

先辈质料表征要领

 

扼要先容

使用电子、光子、离子、原子、强电场、热能等与固体外貌的互相作用,丈量从外貌散射或发射的电子、光子、离子、原子、分子的能谱、光谱、质谱、空间漫衍或衍射图像,失掉外貌身分、外貌布局、外貌电子态及外貌物理化学历程等信息的种种技能,统称为外貌剖析技能。

外貌组分剖析包罗外貌元素构成、化学态及其在表层的漫衍测定等。后者触及元素在外貌的横向和纵向(深度)漫衍。

 

外貌剖析特点:

外貌是固体的终端,外貌向外一侧没有隔壁原子,外貌原子有部门化学键伸向空间,构成“悬空键”。因而外貌具有与体相差别的较活泼的化学性子。

外貌指物体与真空或气体的界面。

外貌剖析通常研讨的是固体外貌。外貌偶然指外貌的单原子层,偶然指下面的几个原子,偶然指厚度达微米级的外貌层。

 

使用范畴

航空、汽车、质料、电子、化学、生物、地质学、医学、冶金、机器加工、半导体制造、陶瓷品等。

 

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